La solución:
BudgetSensors presenta TipCheck – muestra de Microscopía de Barrido por sondas (SPM) para verificar de manera fácil el estado de las puntas de AFM.
La diferencia entre las diferentes puntas está evidente incluso en caso de barrido de sólo una línea de la muestra.
Pueden verificar facilmente si sus puntas siguen en buen estado, empiezan a desgastarse o ya están totalmente desgastadas o rotas, sin barrer toda la imagen o verificarlos con SEM.
Ademas, esta muestra funciona con los productos de software de Calificación automática y caracterización de las puntas disponibles en el mercado.
Estos esquemas presentan la comparación entre las diferentes puntas de sondas utilizadas para visualizar la muestra
TipCheck.
La superficie barrida es de dimensiones 1 x 1 μm para cada una de la imágenes. La escala de altura es de unos 100 nm.
Bajo las imágenes topográficas se puede ver el esquema representativo de la sección transversal correspondiente a cada imagen.
La muestra TipCheck está compuestra por una capa muy fina y resistente a desgaste sobre un chip de silicio. Esta capa tiene una nanoestructura granulosa con puntas agudas ideales para reproducción de la imagen por la punta de la sonda de AFM.
La dimension de la matriz del TipCheck es de 5x5mm. Se suministra pegada a un disco metálico para poder colocarla en su dispositivo de AFM.
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