Sondas de AFM, AFM Sondas Conductoras, ElectriTap300

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Sondas Conductoras

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los detalles del producto

Sonda de AFM modelo: ElectriTap300-G
Aplicación:	Modo de contacto intermitente y modos de medidas eléctricas

Descripción:	silicio monolítico; forma simétrica de la punta; dim.: 3.4 x 1.6 x 0.3 mm Ranuras de Alineación

Recubrimiento:	recubrimiento conductor de electricidad

	valor	banda
Frecuencia Resonante	300 kHz	± 100 kHz
Constante de fuerza	40 N/m	20 N/m to 75 N/m
Longitud	125 µm	± 10 µm
Anchura media	30 µm	± 5 µm
Espesor	4 µm	± 1 µm
Altura de la punta	17 µm	± 2 µm
Deflexión de la punta	15 µm	± 5 µm
Radio de la punta	< 25 nm
Recubrimiento	conductor; Cr/Pt de ambos lados
Ángulo del medio cono	20°-25° del eje del cantilever 25°-30° de ambos lados 10° de la punta
Resistencia en contacto	300 Ohms a la capa fina de Pt

Part of NanoWorld Group

Modos de medidas eléctricas:

. El Microscopio de Escaneo de Capacitancia (SCM),
. El Microscopio de Fuerza Electrostática(EFM),
. Kelvin probe Force Microscopy (KFM),
. Litografía de la Microscopía de barrido ,
. Otros Modos Eléctricos

Recubrimiento conductor de 5 nm de cromo y de 25 nm de platino de los dos lados del cantilever. Este recubrimiento aumenta también la reflexibilidad del láser del cantilever.

Sonda de AFM modelo: ElectriTap300-G